Program
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| 8월 28일 (수) Tutorial | ||
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| 09:00~10:00 | 등록 (Registration) | |
| 10:00~12:00 | Atomic Force Microscopy: from A to Z | 이해성 교수 전주대 탄소나노신소재공학과 |
| 12:00~13:30 | 점심식사 & ㈜파크시스템스로 이동 | |
| 13:30~15:30 | AFM 실습 | 파크시스템스 응용기술센터 |
| 8월 29일 (목) Symposium | ||
| 09:00~10:00 | 등록 (Registration) | |
| 10:00~10:05 | 개회 및 환영사 | |
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Session I |
Industrial applications of AFM: local evaluation of adhesion, modulus, piezoelectricity, and ferroelectricity (30 min) | 김윤석 교수 성균관대 신소재공학부 |
| 3D-AFM for Sidewall Surface Characterization (30 min) | 김태곤 교수 한양대 소재∙부품융합과 |
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| AFM applications on carbon materials (30 min) | 이해성 교수 전주대 탄소나노신소재공학과 |
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| 11:35~12:00 | 단체사진 촬영 | 수원컨벤션센터 정문 |
| 12:00~13:00 | 점심 식사 | |
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Session II |
Biological Application of Atomic Force Microscope : Single Cell Manipulation and Bio-Molecular Interaction (30 min) |
신훈규 교수 POSTECH 첨단재료과학부 |
| Biophysical property based isolation of circulating tumor cells towards personalized medicine (30 min) |
김민석 교수 DIGIST 뉴바이올로지 |
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| Towards the development of high-speed atomic force microscopy (30 min) | 이영중 교수 경북대 기계공학부 |
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| 14:30~14:45 | Coffee Break (15 min) | |
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Session III |
Improved post-CMP surface topology using In-Line AFM (30 min) | 김성식 TL SK 하이닉스 메모리반도체 |
| Advanced Metrology and Inspection in the Semiconductor Manufacturing (30min) | 김은파 책임 삼성전자 반도체연구소 |
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| Quantitative Automated AFM Technologies for Industrial Applications (30min) | 조상준 상무 파크시스템스 응용기술센터 |
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| 16:15~16:30 | ㈜파크시스템스로 이동 | |
| 16:30~17:30 | AFM Demo: Research & Automated AFM | 파크시스템스 응용기술센터 |
| 17:30~18:00 | 폐회 및 식사 장소 이동 | |
| 18:00~19:00 | 저녁 식사 | |
